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介質損耗測試

更新時間:2024-11-05

簡要描述:

介質損耗測試具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間(在國內同類產品中速度較快)等特點。

介質損耗測試

JSY系列介質損耗測試是一種測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗,(tgδ)和電容容量(Cx)它淘汰了 QS 高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間(在國內同類產品中速度快)等特點。體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介損測試儀。
主要技術指標
     1、環(huán)境溫度:0 ~ 40℃(液晶屏應避免長時日照)        
     2、相對濕度:30% ~ 70%
     3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz
     4、外形尺寸:長×寬×高   500mm×300mm×400mm
     5、重量:    約18Kg          
     6、輸出功率:0.6KVA
     7、顯示分辯率:3位、4位(內部全是6位)
     8、測量范圍及輸出電壓選擇:
                介質損耗(tgδ):±0.00~±999%
                試品電容容量(Cx)和加載電壓:
                2.5KV檔:≤300nF(300000pF)            3KV檔:≤200nF(200000pF)
                5KV檔:≤76nF(76000pF)                7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
                10KV檔:≤20nF(20000pF)
     9、基本測量誤差:
                介質損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA)
                介質損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA)
                電容容量(Cx):1.5%±1.5pF介質損耗測試

我們提供的產品包括變頻串聯(lián)諧振試驗裝置、繼電保護測試儀、大電流發(fā)生器、試驗變壓器、互感器測試儀、電纜故障測試儀、超低頻發(fā)生器、高壓開關測試儀等測試儀器。本公司堅持“以人為本 科技創(chuàng)新"為導向,竭誠為客戶提供更好的檢測方案!


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